協立化学産業株式会社

XPS（X線光電子分光）

軟 X 線を物質表面に照射し、表面数ナノメートル領域より放出される光電子（photoelectron ）のエネルギー測定により、物質表面の構成元素、化学結合状態の分析を行うのが、X 線光電子分光法（X-ray Photoelectron Spectroscopy:XPS）です。測定される光電子のエネルギーは元素固有であり、また結合状態に依存しているため、化学シフトが観測されます。励起源として X 線を使用するため、絶縁物質の測定も容易にできます。XPS における測定対象は、金属 ・ 半導体 ・ 高分子化合物から最先端のハイテク材料まで広範囲に渡り、これらの材料開発、表面評価に適した分析装置です。

TEM（透過型電子顕微鏡）

フィールドエミッション形電子銃を光源に持ちインカラム形エネルギーフィルタを搭載した透過型分析電子顕微鏡です。 本装置のフィルタワークにより、試料中の元素分析はもちろん、その化学結合状態の分析もできます。ゼロロスフィルタ像や、エネルギー選択像からは観察の目的に応じた情報を得ることができます。ナノテクノロジー新素材の開発や微小異物の分析に用いられます。またオプションとして3次元トモグラフィー装置を導入し、3次元原子ポジショニングと立体観察が可能です。

金属ナノ粒子からなるゲルネットワークの透過型電子顕微鏡写真(九州大学との共同研究)

NMR（核磁気共鳴装置）

オートサンプリング機能を有した600MHz の高磁場 NMR の高性能・高機能分光計は、分子構造解析や材料評価といった従来の NMR の応用にとどまらず、迅速な機能性分子・高分子の創製、分子間の相互作用など緻密に解析できる装置です。また種々の元素に対応した固体プローブを導入し、幅広く材料分析に用います。さらにLCとも連動し、リアルタイムな成分分析・反応解析・構造解析が可能です。

EPMA

FE 電子銃、電子光学系、真空排気系などを刷新した高分解能 ･ 高性能フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザです。FE 電子銃が実現した極微プローブは、低加速電圧で分析照射電流範囲にわたり、サブミクロンの分析分解能と微量元素の高感度 X 線検出を可能としました。 これらによりマイクロレベルの異物解析や構造・組成の解析に用いることができるパワーツールです。

TOF-SIMS

超高真空下で試料表面にイオン（1次イオン）を照射すると、試料を構成する原子や分子の一部がイオン（2次イオン）として放出されます。

この2次イオンを電場によって加速すると、加速された2次イオンの速度は質量数によって異なります。

したがって検出器へ到達する時間を測定することにより、発生した2次イオンの質量数を測定することができます。これらの原理により高分子材料の組成・構造解析を精密に行うことが可能です。